Cristalografie de raze X

De la Wikipedia, enciclopedia liberă
Jump to navigation Jump to search
Un difractometru de raze X

Cristalografia de raze X este o tehnică cristalografică utilizată pentru determinarea structurii atomice și moleculare a unui cristal. La baza tehnicii se află ideea că structura cristalină cauzează fascicolul incident de raze X să se difracte în mai multe direcții specifice. Prin măsurarea unghiurilor și a intensităților acestor raze difractate, se poate obține o imagine tridimensională a densității electronice din cristalul respectiv. Se pot determina astfel pozițiile atomilor în cristal, tipurile de legături chimice și se pot deduce alte informații variate.[1]

Istoric[modificare | modificare sursă]

Metode[modificare | modificare sursă]

Vezi și[modificare | modificare sursă]

Referințe[modificare | modificare sursă]

  1. ^ „Cum funcționează cristalografia cu raze X ?”, Scientia.ro, accesat în