Microscop de forță atomică
Microscopul de forță atomică (AFM, din engleză Atomic force microscopy) este un tip de microscop cu rezoluție foarte înaltă, sub un nanometru.[1] Informația este preluată ca urmare a „atingerii” probei cu un element mecanic, precum piezoelectric. AFM permite determinarea proprietăților topografice, magnetice, chimice, optice și mecanice de la suprafața unei probe în aer, lichide sau la vid ultra-înalt.[2]
Note
[modificare | modificare sursă]- ^ „Measuring and Analyzing Force-Distance Curves with Atomic Force Microscopy” (PDF). afmworkshop.com.
- ^ „What is AFM? Learn about Atomic Force Microscopy!”, Nanoandmore.com, accesat în
